X熒光光譜儀是利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發(fā)待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析的儀器。當一束高能粒子(射線)在與原子的相互作用下，如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結合能時，可以將該軌道的電子逐出，形成空穴。此時原子處于非穩(wěn)定狀態(tài)，在短時間內，軌道的外層電子向空穴躍遷，使原子恢復至穩(wěn)定狀態(tài)。在外層電子躍遷的過程中，兩個殼層之間的能量差就以特征X射線的形式溢出，即產生了X熒光。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量或者波長，然后儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。
 

　　X熒光光譜儀主要分為波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)兩種：
 

　　波長色散型(WD-XRF)：
 

　　激發(fā)出的熒光足夠強，測量數據準確。
 

　　靈敏度較高，所測數據不存在“灰色地域”。
 

　　需將被測材料粉碎壓制成樣本后測才準確，適用于材料廠等需要準確測量的場所。
 

　　能量色散型(ED-XRF)：
 

　　不破壞被測的材料或產品，操作簡便。
 

　　可以同時測定樣品中幾乎所有的元素，分析速度快。
 

　　對鉻和溴是總量測定，可能產生一定的測量誤差，但通常不影響使用。
 

　　X熒光光譜儀的使用注意事項：
 

　　1.樣品準備：確保待測樣品干燥、無油污，避免雜質干擾測量結果。對于不規(guī)則樣品，可使用壓片機壓制成規(guī)定形狀的樣品片。
 

　　2.開機與預熱：按照儀器說明書正確開機，并進行預熱，使儀器達到穩(wěn)定狀態(tài)。
 

　　3.儀器設置：根據待測樣品的性質和分析需求，設置合適的測量模式、管電壓、管電流等參數。
 

　　4.測量與記錄：將樣品放置在測量區(qū)域，啟動測量程序。測量過程中，注意觀察儀器顯示的實時數據和光譜圖，確保測量結果的準確性。測量完成后，及時記錄測量數據和結果。